设备详细介绍

高密度等离子体硅刻蚀机

Inductively Coupled Plasma Etching System for Silicon and Silicon Dioxide

发布时间:2013-01-16 | 【打印】 【关闭】

 

   号:Plasmalab System 100 ICP180

   能:

  • 纳米硅刻蚀、深硅刻蚀、低温工艺、SOI工艺、SiO2刻蚀
      Si etching, Nano- Si etching, Deep Si etching, SOI etching, SiO2 etching
  • 刻蚀特征尺寸微米至百纳米;刻蚀深宽比可达10﹕1
      Micrometersdown to hundred nanometers; Depth to width ratio up to 10﹕1

主要配置:

  • 载片(Wafers)直径100mm50mm及小碎片 (up to 100 mm wafers)
  • 六路气体 (Gas lines)C4F8SF6CHF3ArO2PN2
  • 射频源(Sources)
      
    ICP源:3KW,13.56MHz (ICP180 power: 3kW, 13.56MHz)
      RF源:600W,13.56MHz (ICP RF power: 600W, 13.56MHz)
      LF脉冲源:300W350~ 460 KHz (SOI power300W, 350 ~460 KHz)
  • 下电极(Lowerelectrode)直径240mm氦气背冷辅助冷却 (240mm with backside helium cooling)
  • 片台温度范围(Temperature range)
       冷却液工艺- 30~ 80 (HTR /Chiller : - 30℃~ 80℃  )
       液氮低温
    /加热工艺- 150~ 400 (Liquid nitrogen cryo-cooled / heated process: -150~ 400℃  ) 

技术特点:

  • 低损伤刻蚀
      Low damage etching
  • 高速率SiO2刻蚀
      High rate etching of SiO2
  • 高速率各向异性Si刻蚀
      High rate anisotropic etching of Si