科研成果

一种测量扫描探针显微镜导电针尖的特征电容的方法

专利名称:

一种测量扫描探针显微镜导电针尖的特征电容的方法

英文名称:

一种测量扫描探针显微镜导电针尖的特征电容的方法

专利类别:

发明

申请号:

200810117014.6

申请日期:

2008-7-22

授权日期:

2010-9-29

专利号:

ZL200810117014.6

第一发明人:

戚桂村

其它发明人:

杨延莲、严昊、王琛

国外申请日期:

国外申请方式:

专利授权日期:

2010-9-29

缴费情况:

实施情况:

专利证书号:

专利摘要:

其它备注: