科研成果

测量材料表面电荷密度的方法

专利名称:

测量材料表面电荷密度的方法

英文名称:

测量材料表面电荷密度的方法

专利类别:

发明

申请号:

200810100820.2？

申请日期:

2008-02-22

授权日期:

2011-2-9

专利号:

ZL200810100820.2

第一发明人:

戚桂村

其它发明人:

杨延莲; 严昊; 关丽; 裘晓辉; 王琛

国外申请日期:

国外申请方式:

专利授权日期:

2011-2-9

缴费情况:

实施情况:

专利证书号:

专利摘要:

其它备注: