科研成果

多孔氧化铝薄膜的阻挡层厚度的检测方法

专利名称:

多孔氧化铝薄膜的阻挡层厚度的检测方法

英文名称:

多孔氧化铝薄膜的阻挡层厚度的检测方法

专利类别:

发明

申请号:

201010280022.X

申请日期:

2010-9-10

授权日期:

2014-4-16

专利号:

ZL201010280022.X

第一发明人:

智林杰

其它发明人:

贾玉莹、罗彬、梁明会

国外申请日期:

国外申请方式:

专利授权日期:

2014-4-16

缴费情况:

实施情况:

专利证书号:

专利摘要:

其它备注: