科研成果

一种针对高分子纳米材料的透射电镜简易检测方法

专利名称:

一种针对高分子纳米材料的透射电镜简易检测方法

英文名称:

专利类别:

发明授权

申请号:

CN201510294051.4

申请日期:

2015-06-01

授权日期:

2018-12-21

专利号:

ZL201510294051.4

第一发明人:

梁兴杰

其它发明人:

车晶; 翁郁华; 郭宏博; 薛向东; 甘雅玲

国外申请日期:

国外申请方式:

专利授权日期:

2018-12-21

缴费情况:

实施情况:

专利证书号:

专利摘要:

其它备注: