科研成果

一种湿法刻蚀制备纳米颗粒TEM样品的方法

专利名称:

一种湿法刻蚀制备纳米颗粒TEM样品的方法

英文名称:

专利类别:

发明

申请号:

CN201810469345.X

申请日期:

2018-05-16 00:00:00

授权日期:

2021-11-09 00:00:00

专利号:

ZL201810469345.X

第一发明人:

王雷

其它发明人:

王树; 刘前

国外申请日期:

国外申请方式:

专利授权日期:

2021-11-09 00:00:00

缴费情况:

实施情况:

专利证书号:

专利摘要:

其它备注: