科研成果

一种利用光谱椭偏仪检测超薄金属膜的方法及装置

专利名称:

一种利用光谱椭偏仪检测超薄金属膜的方法及装置

英文名称:

专利类别:

发明

申请号:

CN202110089044.6

申请日期:

2021-01-22 00:00:00

授权日期:

2022-11-01 00:00:00

专利号:

ZL202110089044.6

第一发明人:

赵乐

其它发明人:

褚卫国; 董凤良; 陈佩佩; 闫兰琴; 田毅; 宋志伟; 徐丽华; 胡海峰

国外申请日期:

国外申请方式:

专利授权日期:

2022-11-01 00:00:00

缴费情况:

实施情况:

专利证书号:

专利摘要:

其它备注: