科研成果

X射线成像装置及X射线成像方法

专利名称:

X射线成像装置及X射线成像方法

英文名称:

专利类别:

发明

申请号:

CN201811417134.8

申请日期:

2018-11-26 00:00:00

授权日期:

2022-05-17 00:00:00

专利号:

ZL201811417134.8

第一发明人:

戴庆

其它发明人:

李振军; 李驰; 白冰

国外申请日期:

国外申请方式:

专利授权日期:

2022-05-17 00:00:00

缴费情况:

实施情况:

专利证书号:

专利摘要:

其它备注: