科研成果

用于自旋场效应晶体管的自旋信号测量方法及系统

专利名称:

用于自旋场效应晶体管的自旋信号测量方法及系统

英文名称:

专利类别:

发明

申请号:

CN202010023520.X

申请日期:

2020-01-09

授权日期:

2023-04-28

专利号:

ZL202010023520.X

第一发明人:

孙连峰

其它发明人:

彭志盛; 蔡金钟; 任红轩; 池建义

国外申请日期:

国外申请方式:

专利授权日期:

2023-04-28

缴费情况:

实施情况:

专利证书号:

专利摘要:

其它备注: